| 專利名稱 |
非成像系統的光軸一致性校準和裂像定焦裝調裝置及方法 |
| 申請號/專利號 |
CN201910455989.8 |
專利權人（第一權利人） |
長春理工大學 |
| 申請日 |
2019-05-29 |
授權日 |
2020-12-22 |
| 專利類別 |
授權發明 |
戰略新興產業分類 |
高端裝備制造 |
| 技術主題 |
物鏡|近紅外|偏振片|紅外探測器|棱鏡|干涉濾光片|光軸|光路|偏振|材料科學|光譜|準直器|濾光片|數據處理系統|光學系統|光導纖維|波片|成像光學系統 |
| 應用領域 |
測試光學性能 |
| 意向價格 |
具體面議 |
| 專利概述 |
非成像系統的光軸一致性校準及裂像定焦裝調裝置及方法，為了解決現有技術無法應用于高精度非成像光學系統的光軸一致性校準問題，該裝置由衰減系統、望遠系統、四分之一波片、偏振分光棱鏡、起偏器、離軸全反射式光纖準直鏡、FC光纖接口、寬光譜照明光源、全介質干涉濾光片、一次成像物鏡、裂像抽插裝置、平行平板、裂像對焦屏、二次成像鏡組、近紅外探測器和數據處理系統構成；大口徑望遠系統與光路設置保證了該發明裝置與待測設備姿態不變；近紅外探測器保證測量背景的一致性；在此基礎之上所設置的寬光譜照明光源經由該發明裝置可出射全口徑平行光，對于在該發明裝置口徑之內的非成像光學系統的光軸一致性測量與裝調均適用。 |
| 圖片資料 |
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| 合作方式 |
擬轉讓 |
| 聯系人 |
戚梅宇 |
聯系電話 |
13074363281 |
